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| 36 |
 [Microanalysis System] JEOL EDS SDD DETECTOR  |
최지혜 |
23.10.11 |
1,192 |
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| 35 |
[Microanalysis System] JEOL EDS SDD CONTROLLER |
최지혜 |
23.10.11 |
1,037 |
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| 34 |
[Microanalysis System] JEOL EDS PREAMP CABLE |
최지혜 |
23.10.11 |
932 |
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| 33 |
[Electron Microscope] JEOL EDS peltier cable |
최지혜 |
23.10.11 |
896 |
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| 32 |
[Microanalysis System] JEOL EDS FLANGE |
최지혜 |
23.10.11 |
898 |
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| 31 |
[Microanalysis System] JEOL EDS DPP |
최지혜 |
23.10.11 |
933 |
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| 30 |
[Electron Microscope] PN 804500070 FILAMENT (K-TYPE) |
강슬연 |
23.08.31 |
1,432 |
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| 29 |
[Electron Microscope] AT APERTURE SEL |
이옥주 |
22.04.25 |
1,460 |
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| 28 |
[Electron Microscope] GASKET PN 408007923 |
강슬연 |
22.02.21 |
1,360 |
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| 27 |
[Electron Microscope] 신형 SPEC EXCH ROD(W/CABLE) 자료 |
강슬연 |
21.11.29 |
1,734 |
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| 26 |
[Electron Microscope] ION SOURCE(8KV) (PN 814758754) |
강슬연 |
21.10.27 |
1,384 |
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| 25 |
[Electron Microscope] PLATE (PN 821148061) |
강슬연 |
21.10.27 |
1,428 |
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| 24 |
[Electron Microscope] 주사전자현미경 HV CABLE PN 780190980 |
강슬연 |
21.05.18 |
2,118 |
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| 23 |
[Electron Microscope] 814839606 OBJECTIVE LENS |
이옥주 |
20.12.21 |
1,841 |
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| 22 |
[Electron Microscope] P/N 814702970 SCREEN DRIVE 사진 |
이옥주 |
20.03.13 |
2,160 |
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| 21 |
[Electron Microscope] STEM BF APERTURE SEL |
이옥주 |
20.03.02 |
2,105 |
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| 20 |
[Electron Microscope] SA APERTURE SEL |
이옥주 |
20.03.02 |
2,058 |
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| 19 |
[Other Instruments] HP ELITEDESK 800 G1 TWR |
이옥주 |
20.02.13 |
2,245 |
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| 18 |
[Electron Microscope] P/N 810779765 HOLDER 정보 |
이옥주 |
19.08.29 |
2,202 |
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| 17 |
[Electron Microscope] JCM-7000 출시 |
운영자 |
19.04.04 |
2,910 |
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